Nessun effetto matrice per l'analisi degli ioni metallici

La tecnica TXRF si basa sui principi dell'EDXRF, ma con una differenza significativa nell'angolo di osservazione del raggio primario. L'angolo di osservazione della TXRF è tale da riflettere completamente il raggio principale, riducendo l'assorbimento nel substrato di supporto e la dispersione associata.

Inoltre, la riduzione del rumore di fondo è ottenuta minimizzando lo spessore del campione, utilizzando una piccola goccia disciolta in un solvente appropriato su un supporto di silice.

Questa pratica elimina la dispersione derivante dal campione e dalla sua matrice, semplificando l'analisi quantitativa, resa possibile anche da uno standard interno.

La tecnica TXRF non è distruttiva e adatta per solidi, liquidi, polveri e leghe, offrendo un'elevata capacità di rilevazione.

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